Diplomarbeit aus dem Jahr 1999 im Fachbereich Informatik – Technische Informatik, Note: 1, Rheinische Friedrich-Wilhelms-Universität Bonn, Sprache: Deutsch, Abstract: Methoden der Bildverarbeitung werden in der Materialforschung benutzt, um Verzerrungen atomarer Größenordnung vorwiegend in kristallinen Halbleiterheterostrukturen lokal quantitativ zu erfassen. Damit lassen sich andere Größen wie lokale Gitterkonstanten und lokale Konzentrationen errechnen und Rückschlüsse auf Wachstumseigenschaften ziehen. Diese Informationen werden benötigt, um bestimmte Eigenschaften der Heterostrukturen zu verbessern, die die Grundlage elektronischer und optoelektronischer Bauelemente wie hochintegrierter Mikrochips, Halbleiterlaser und Leuchtdioden sind.
Dil Almanca ● Biçim PDF ● Sayfalar 89 ● ISBN 9783656999706 ● Dosya boyutu 5.7 MB ● Yayımcı GRIN Verlag ● Kent München ● Ülke DE ● Yayınlanan 2012 ● Baskı 1 ● İndirilebilir 24 aylar ● Döviz EUR ● Kimlik 5239912 ● Kopya koruma olmadan