N. John DiNardo 
Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces 

Dieses Buch, das aus der Reihe Materials Science and Technology hervorging, gewährt einen detaillierten Einblick in die physikalischen Grundlagen und Abbildungstechnik von STM, AFM und verwandten berührungsfreien Methoden zur Charakterisierung von Oberflächen auf atomarer Ebene. Anwendungen der Methoden, zum Beispiel zur Manipulation von Atomen und Klustern im Nanometer- Bereich werden eingehend behandelt. Viele exzellente Abbildungen zeigen die Bedeutung dieser Methode für die Untersuchung von Oberflächen und der Prozesse, die dort ablaufen.

Behandelt werden unter anderem:
Halbleiter Oberflächen und Grenzflächen * Isolatoren
* Schichtstrukturen * Supraleiter * Elektrochemie and Flüssig- Fest-Grenzflächen * Biologische Systeme * Meteorologische Anwendungen * Oberflächenkräfte im Nanometer-Bereich
* Nanotribologie * Manipulationen im Nanometerbereich

Das Werk richtet sich gleichermaßen an Materialwissenschaftler, Oberfächenchemiker und -physiker, Elektrochemiker sowie Katalyse- chemiker und Wissenschafter in der Mikroelektronikindustrie.

表中的内容

Introduction
Scanning Tunneling Microscopy (STM)
Atomic Force Microscopy/
Manipulation of Atoms and Atom Clusters on the Nanoscale
Spin.Offs of STM – Non-Contact Nanoscale Probes
Acknowledgements
References