This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book is written by international experts from the top nano-research groups that specialize in nanomaterials characterization. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.
€234.33
สารบัญ
Fundamentals of Scanning Electron Microscopy (SEM).- Backscattering Detector and EBSD in Nanomaterials Characterization.- X-ray Microanalysis in Nanomaterials.- Low k V Scanning Electron Microscopy.- E-beam Nanolithography Integrated with Scanning Electron Microscope.- Scanning Transmission Electron Microscopy for Nanostructure Characterization.- to In-Situ Nanomanipulation for Nanomaterials Engineering.- Applications of FIB and Dual Beam for Nanofabrication.- Nanowires and Carbon Nanotubes.- Photonic Crystals and Devices.- Nanoparticles and Colloidal Self-assembly.- Nano-building Blocks Fabricated through Templates.- One-dimensional Wurtzite Semiconducting Nanostructures.- Bio-inspired Nanomaterials.- Cryo-Temperature Stages in Nanostructural Research.ซื้อ eBook เล่มนี้และรับฟรีอีก 1 เล่ม!
ภาษา อังกฤษ ● รูป PDF ● หน้า 522 ● ISBN 9780387396200 ● ขนาดไฟล์ 23.9 MB ● บรรณาธิการ Weilie Zhou & Zhong Lin Wang ● สำนักพิมพ์ Springer New York ● เมือง NY ● ประเทศ US ● การตีพิมพ์ 2007 ● ที่สามารถดาวน์โหลดได้ 24 เดือน ● เงินตรา EUR ● ID 2145112 ● ป้องกันการคัดลอก Adobe DRM
ต้องใช้เครื่องอ่านหนังสืออิเล็กทรอนิกส์ที่มีความสามารถ DRM
หนังสืออิเล็กทรอนิกส์เพิ่มเติมจากผู้แต่งคนเดียวกัน / บรรณาธิการ
3,296 หนังสืออิเล็กทรอนิกส์ในหมวดหมู่นี้
