This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book is written by international experts from the top nano-research groups that specialize in nanomaterials characterization. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.
€234.33
Mục lục
Fundamentals of Scanning Electron Microscopy (SEM).- Backscattering Detector and EBSD in Nanomaterials Characterization.- X-ray Microanalysis in Nanomaterials.- Low k V Scanning Electron Microscopy.- E-beam Nanolithography Integrated with Scanning Electron Microscope.- Scanning Transmission Electron Microscopy for Nanostructure Characterization.- to In-Situ Nanomanipulation for Nanomaterials Engineering.- Applications of FIB and Dual Beam for Nanofabrication.- Nanowires and Carbon Nanotubes.- Photonic Crystals and Devices.- Nanoparticles and Colloidal Self-assembly.- Nano-building Blocks Fabricated through Templates.- One-dimensional Wurtzite Semiconducting Nanostructures.- Bio-inspired Nanomaterials.- Cryo-Temperature Stages in Nanostructural Research.Mua cuốn sách điện tử này và nhận thêm 1 cuốn MIỄN PHÍ!
Ngôn ngữ Anh ● định dạng PDF ● Trang 522 ● ISBN 9780387396200 ● Kích thước tập tin 23.9 MB ● Biên tập viên Weilie Zhou & Zhong Lin Wang ● Nhà xuất bản Springer New York ● Thành phố NY ● Quốc gia US ● Được phát hành 2007 ● Có thể tải xuống 24 tháng ● Tiền tệ EUR ● TÔI 2145112 ● Sao chép bảo vệ Adobe DRM
Yêu cầu trình đọc ebook có khả năng DRM
Thêm sách điện tử từ cùng một tác giả / Biên tập viên
3.296 Ebooks trong thể loại này
